Модель XIS-100 - рентгеновская система контроля с облучением сверху-вниз предназначенная для микроисследования загрязнений.
Основные особенности:
- Производственная линия может контролироваться лучом сверху-вниз
- Сверхмалая рентгеновская установка для установки в тесных местах для осмотра мелких продуктов
- Возможность осмотра супов и применения на маленьких быстрых линиях (1,000 объектов в минуту)
Модель начального уровня, которая может заменить металлодетекторы, которые могли обнаруживать только металл.
Размер обнаруживаемых объектов (мм)
Высота
|
Ширина
|
120
|
90
|
100
|
108
|
80
|
125
|
60
|
143
|
40
|
160
|
20
|
178
|
0
|
195
|
Рентгеновское изображение объектов